400-099-6011
您的位置:首页 > 新闻中心 > 公司新闻 > 赛默飞双束全自动原位样品制备新品发布

赛默飞双束全自动原位样品制备新品发布

提供来源:上海百贺 日期:2019年11月28日

在刚结束的“第十届中国聚焦离子束技术及学术研讨”上,新一代的Therno Scientific™ Helios™ 5 DualBeam™  精彩亮相。赛默飞FIB产品经理Mikhail Dutka 为大家讲述了Fully Automated In-Situ Sample Preparation with New Generation Helios 5 DualBeam(全新 Helios 5 双束全自动原位样品制备)。

现场精彩图片

使用聚焦离子束制备薄 S/TEM 样品仍被视为一项具有挑战性的任务,需要高水平的专业知识、长时间的培训时间和操作员的独特技能。最新一代 Helios 5 DualBeam 与 AutoTEM 5 相结合,可实现从粗切到原位提取、减薄和最终低 kV 抛光的全自动过程,实现最高质量的薄片样品制备过程。它设计可靠适用于各种最困难的材料。在完全自动化模式下,薄片样品可以在45分钟无人值守的情况下快速制备。

Helios 5 DualBeam 重新定义了高分辨率成像的标准:最高的材料对比度,最快、最简单、最精确的高质量样品制备,用于 S/TEM 成像和原子探针断层扫描(APT)以及最高质量的亚表面和 3D 表征。在 Helios DualBeam 系列久经考验的性能基础上,新一代的 Helios 5 DualBeam 进行了改进优化,所有这些都旨在确保系统处于手动或自动工作流程的最佳运行状态。这些改进包括:

一、更易于使用

Helios 5 是所有体验级别用户最容易使用的 DualBeam。操作员培训可以从几个月缩短到几天,系统设计可帮助所有操作员在各种高级应用程序上实现一致、可重复的结果。

二、提高了生产率

Helios 5 和 AutoTEM 5 软件的先进自动化功能,增强的稳健性和稳定性允许无人值守甚至夜间操作,显着提高样品制备通量。

三、改善时间和结果

Helios 5 DualBeam 现在包括 FLASH,这是一种调整图像的新概念。对于传统的显微镜,每次操作员需要获取图像时,必须通过迭代对中仔细调整显微镜。使用 Helios 5 DualBeam,屏幕上的简单手势将激活 FLASH,将自动调整这些参数。自动调整可以显着提高通量、数据质量并简化高质量图像的采集。

文章转自:微信公众号赛默飞材料与结构分析中国

博宏福彩 福运福彩 南粤福彩 乐喜福彩 多赢福彩 乐优福彩 玖壹福彩 成功福彩 三亿福彩 九龙福彩